DSpace Collection:
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/190
2024-03-29T09:23:55ZΠεριγραφή της χρήσης του παντογράφου και παραδείγματα εφαρμογής του σε σύγχρονο βιομηχανικό περιβάλλον
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/13246
Title: Περιγραφή της χρήσης του παντογράφου και παραδείγματα εφαρμογής του σε σύγχρονο βιομηχανικό περιβάλλον
Authors: Χατζηδημητρίου, Μιχαήλ
Description: Πτυχιακή εργασία-- Σχολή Τεχνολογικών Εφαρμογών --Τμήμα Τμήμα Μηχανολόγων Οχημάτων,2015--7397Crack identification in beam structures using both mechanical impedance and eigenfrequency changes
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10018
Title: Crack identification in beam structures using both mechanical impedance and eigenfrequency changes
Authors: Bamnios, George; Douka, Eleni; Trochidis, Athanasios
Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικής, 20012001-01-01T00:00:00ZFPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10097
Title: FPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements
Authors: Histov, Valentin; Hatzopoulos, Alkiviadis; Bamnios, George; Papakostas, Dimitrios; Manolakis, Dimitrios; Vassios, Vasilios; Pouros, Sotirios
Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών, 20152015-06-01T00:00:00ZMethods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits
http://195.251.240.227/jspui/handle/123456789/10094
Title: Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits
Authors: Dimopoulos, Michael; Spyronasios, Alexios; Hatzopoulos, Alkiviadis; Tsatsoulis, N.; Papakostas, Dimitrios
Description: Δημοσιεύσεις μελών--ΣΤΕΦ--Τμήμα Ηλεκτρονικών Μηχανικών,20122012-03-01T00:00:00Z