Skip navigation
Home
Browse
Communities
& Collections
Browse Items by:
Issue Date
Author
Title
Subject
Item Type
Advanced Search
Useful
Links
Information
Help
Sign on to:
My DSpace
Receive email
updates
Edit Profile
Saved Searches
Favorites
Eureka! Institutional Repository
Eureka! Institutional Repository
Browsing by Author Papakostas, Dimitrios
Jump to:
0-9
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
Jump to:
Α
Β
Γ
Δ
Ε
Ζ
Η
Θ
Ι
Κ
Λ
Μ
Ν
Ξ
Ο
Π
Ρ
Σ
Τ
Υ
Φ
Χ
Ψ
Ω
or enter first few letters:
View Option
Sort by:
title
issue date
submit date
In order:
Ascending
Descending
Results/Page
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
Authors/Record:
All
1
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
Showing results 21 to 40 of 60
< previous
next >
Title
Author(s)
Issue date
Estimating the influence of light on the performance of polycrystalline thin-film transistors at the sub-threshold region
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Papadopoulos, Nikolaos
;
Dimitriadis, Charalampos
;
Siskos, Stylianos
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Παπαδόπουλος, Νικόλαος
;
Σίσκος, Στυλιανός
;
Δημητριάδης, Χαράλαμπος
15-Jul-2015
Estimation of Circuit Output Measurements including Statistically Depended Parameters
Papakostas, Dimitrios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
3-Jul-2015
Estimation of Statistical Variables for Analog Circuit Parameter Evaluation
Papakostas, Dimitrios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Palouktsoglou, G.
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Παλουκτσόγκλου, Γ.
7-Jul-2015
Estimation of Statistical Variables for analogue fault detectability evaluation
Papakostas, Dimitrios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
3-Jul-2015
Fault Detectability of Double Analogue Measurements using Probabilistic Analysis
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
15-Jul-2015
Fault detection in linear bipolar ICs: comparative results between power supply current and output voltage measurements
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
7-Jul-2015
Fault Identification in Analog Circuits using Current Spectrum Measurements
Ioannou, A.
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Ιωάννου, Α.
7-Jul-2015
Fault Tolerance Limits and Input Stimulus Selection using an Implemented FPGA-based Testing System
Vassios, Vasilios
;
Pouros, Sotirios
;
Papakostas, Dimitrios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Πούρος, Σωτήριος
;
Βάσσιος, Βασίλειος
3-Jul-2015
FPGA Based Mixed-Signal Circuit Novel Testing Techniques
Papakostas, Dimitrios
;
Vassios, Vasilios
;
Histov, Valentin
;
Pouros, Sotirios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Πούρος, Σωτήριος
;
Βάσσιος, Βασίλειος
17-Jul-2015
FPGA-Based Mixed-Signal Circuits Testing System Implementation
Vassios, Vasilios
;
Pouros, Sotirios
;
Papakostas, Dimitrios
;
Πούρος, Σωτήριος
;
Βάσσιος, Βασίλειος
;
Παπακώστας, Δημήτριος
17-Jul-2015
FPGAs and Wavelets on Circuit Testing Based on Current Signal Measurements
Histov, Valentin
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Bamnios, George
;
Papakostas, Dimitrios
;
Manolakis, Dimitrios
;
Vassios, Vasilios
;
Pouros, Sotirios
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Μπάμνιος, Γεώργιος
;
Βάσσιος, Βασίλειος
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Μανωλάκης, Δημήτριος
17-Jul-2015
Impact Of Circuit Parameter Derivative Calculation on Estimation of Statistical Variables for Analog Fault Detectability Evaluation
Papakostas, Dimitrios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
16-Jul-2015
Impact of Parameter Covariance on Fault Detectability Estimation of Analog and Mixed-Mode Circuits
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
3-Jul-2015
Improved Analogue Fault Coverage Estimation using Probabilistic Analysis
Chatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Παπακώστας, Δημήτριος
3-Jul-2015
Input Stimulus Comparison using an Adaptive FPGA-based Testing System
Papakostas, Dimitrios
;
Pouros, Sotirios
;
Vassios, Vasilios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Πούρος, Σωτήριος
;
Βάσσιος, Βασίλειος
;
Παπακώστας, Δημήτριος
17-Jul-2015
Methods for Testing Analog and Mixed-Signal Circuits
Dimopoulos, Michael
;
Spyronasios, Alexios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Tsatsoulis, N.
;
Papakostas, Dimitrios
;
Δημόπουλος, Μιχαήλ
;
Σπυρονάσιος, Αλέξιος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Τσατσούλης, Ν.
17-Jul-2015
Microcontroller-based Production-Line Testing
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Konstantinidis, Evdokimos
;
Dimopoulos, Michael
;
Spyronasios, Alexios
;
Papakostas, Dimitrios
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Κωνσταντινίδης, Ευδόκιμος
;
Δημόπουλος, Μιχαήλ
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Σπυρονάσιος, Αλέξιος
16-Jul-2015
Modeling the impact of light on the performance of polycrystalline thin-film transistors at the sub-threshold region
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Siskos, Stylianos
;
Dimitriadis, Charalampos
;
Papadopoulos, Nikolaos
;
Papakostas, Dimitrios
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
;
Σίσκος, Στυλιανός
;
Παπαδόπουλος, Νικόλαος
;
Δημητριάδης, Χαράλαμπος
16-Jul-2015
Multiple Parametric Circuit Analysis Tool for Detectability Estimation
Konstantinou, Dimitrios
;
Spyronasios, Alexios
;
Dimopoulos, Michael
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papakostas, Dimitrios
;
Κωνσταντίνου, Δημήτριος
;
Σπυρονάσιος, Αλέξιος
;
Δημόπουλος, Μιχαήλ
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
17-Jul-2015
New Optical Feedback Pixel driver circuit and its Simulation in SPICE
Papakostas, Dimitrios
;
Hatzopoulos, Alkiviadis
;
Papadopoulos, Nikolaos
;
Παπαδόπουλος, Νικόλαος
;
Παπακώστας, Δημήτριος
;
Χατζόπουλος, Αλκιβιάδης
16-Jul-2015